Стандартное применение для исследований:
- химия поверхности;
- катализ;
- металлургия;
- фотоэлектрическая энергетика;
- полупроводники;
- энергетика;
- комбинаторные исследования материалов
Система M-UHV является превосходной платформой для интеграции различных аналитических методов UHV, включая:
- рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию (XPS);
- электронную Оже-спектроскопию (AES);
- спектроскопию потерь энергии (ELS);
- ультрафиолетовую фотоэлектронную спектроскопию (UPS);
- сканирующую электронную микроскопию (SEM);
- растровую Оже-микроскопию (SAM);
- термопрограммированную десорбцию (TPD)/термопрограммированную реакционную спектроскопию (TPRS)/спектроскопию термической десорбции (TDS);
- отражательную дифракцию быстрых электронов (RHEED);
- спектроскопию ионного рассеяния (ISS);
- масс-спектрометрию вторичных ионов (SIMS);
- сканирующую туннельную микроскопию (STM);
- спектроскопию потерь энергии электронов высокого разрешения (HREELS)
- ...и многое другое